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FeMnSi基合金中层错几率的X衍射线形分析法测定 被引量:6
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作者 漆璿 江伯鸿 徐祖耀 《理化检验(物理分册)》 CAS 1998年第2期16-18,共3页
堆垛层错是一种对金属、合金的相变及某些性质有重要影响的晶体缺陷。用X射线衍射线形分析法可以测定金属合金中的层错几率。本文采用近似函数法和付立叶分析法测定了FeMnSi基形状记忆合金中的层错几率,得到了有规律的结果;同时,将两种... 堆垛层错是一种对金属、合金的相变及某些性质有重要影响的晶体缺陷。用X射线衍射线形分析法可以测定金属合金中的层错几率。本文采用近似函数法和付立叶分析法测定了FeMnSi基形状记忆合金中的层错几率,得到了有规律的结果;同时,将两种方法所得的数据进行了比较,并讨论了近似函数的选择和工具线宽对层错几率计算结果的影响。 展开更多
关键词 形状记忆合金 层错几率 线形分析 铁锰硅基
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