铂薄膜电阻温度传感器玻璃密封材料的稳定性能研究

针对铂薄膜电阻温度传感器中绝缘封装过程中存在的气密、绝缘等性能问题,研究了两种玻璃与铂薄膜温度传感器氧化铝基底间浸润性、气密性、绝缘性及热循环稳定性等性能,优选性能最佳的玻璃密封材料应用在铂薄膜温度传感器中。研究结果表明,热稳定性存在差异SiO_(2)-Ba O-Al_(2)O_(3)-CaO系微晶玻璃与SiO_(2)-B_(2)O_(3)-Al_(2)O_(3)-CaO系微晶玻璃在800℃~1000℃间与氧化铝基底均具有良好的浸润性。SiO_(2)-Ba O-Al_(2)O_(3)-CaO系玻璃与SiO_(2)-B_(2)O_(3)-Al_(2)O_(3)-CaO系玻璃密封材料在800℃、通气压力在20.7 k Pa下的漏气率分别约为0.0073 sccm·cm^(-1)和0.0065 sccm·cm^(-1),绝缘电阻率分别约为21.6×106Ω·cm和31.1×106Ω·cm。此外,在30℃~800℃热循环500次后,两种玻璃表面出现尺寸不一的孔洞,其中,SiO_(2)-Ba O-Al_(2)O_(3)-CaO玻璃经历500次热循环后孔洞尺寸由0.13μm增至15.62μm,而SiO_(2)-B_(2)O_(3)-Al_(2)O_(3)-CaO系玻璃孔洞尺寸变化较小,表面形貌较为致密。以上研究结果表明,SiO_(2)-B_(2)O_(3)-Al_(2)O_(3)-CaO系玻璃具有更加优异的密封性能、高温绝缘性能及热循环稳定性,更适合用于铂薄膜电阻温度传感器的封装工艺。

铂膜温度传感器可靠性定级加速试验研究

针对电子元器件可靠性定级试验面临的困难,结合铂膜温度传感器可靠性研究,探讨了一种可实现的定级加速试验。在分析失效机理的基础上,选定了Arrhenius加速模型,求得激活能与待定常数。利用铂膜温度传感器多功能测试系统,完成铂膜温度传感器可靠性定级加速试验。结果表明,在控制抽样数条件下,明显地缩短了试验时间,对工程实践有重要参考价值。

温度传感器抗干扰方法

本文针对PT100铂热电阻温度传感器接MX100数据采集器测量温度时,变频器并网后,测量信号有干扰信号影响,出现温度突变、无规律连续波动的现象,分析干扰源,提出排除干扰的解决办法,保证采集准确的温度.

基于GPRS的多点无线实时温度检测系统

针对传统温度检测系统中存在的温测上限低、功耗大、传输速率低等问题,采用新型薄膜铂温度传感器设计了一种基于GPRS的多点无线实时温度检测系统,并使用正反馈型线性校正电路进一步提高了系统的测量准确度。多次测试结果表明,该系统具有高度的准确性、灵敏性和实用性。