X荧光光谱法测定沉积在镍基合金带上Nb_3Sn成分比

本文提出用溶液法Ｘ荧光光谱测定沉积在镍基合金带上Ｎｂ３Ｓｎ成份比。在较低管压和管流的条件下采用二元比例法，铌锡荧光强度比与其重量比呈良好线性关系。铌锡薄层与合金基带的重量比，试液浓度，液槽中试样液面的高低等不影响铌锡的荧光强度比。方法的准确度和再现性，令人满意。