特征荧光X射线吸收法精确测定基于铍膜的^(235)U裂变靶厚度

研究发展了一种基于特征荧光X射线吸收谱的、可精确测量裂变物质质量厚度的方法,系统分析了测量不确定度。实验结果表明,该方法可有效测定基于铍膜的235U裂变靶质量厚度,测量不确定度小于5%,其不确定度主要来源于测量的统计性。