X射线荧光光谱法测试金铂饰品中铑覆盖层厚度及主体元素

采用X射线荧光光谱法,通过对比标准铑覆盖层片、标准金合金片和标准铂合金片,在非破坏性的前提下,同时测定金、铂饰品中的铑镀层厚度及主体元素。采用该方法的测试结果与经典库仑法、ICP差减法和火试金法的测试结果进行了对比验证,该方法测试结果具有较高的准确度。