期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
铜互连布线及其镶嵌技术在深亚微米IC工艺中的应用
被引量:
6
1
作者
张兆强
郑国祥
+3 位作者
黄榕旭
杨兴
邵丙铣
宗祥福
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期407-414,共8页
近几年来 ,随着 VLSI器件密度的增加和特征尺寸的减小 ,铜互连布线技术作为减小互连延迟的有效技术 ,受到人们的广泛关注。文中介绍了基本的铜互连布线技术 ,包括单、双镶嵌工艺 ,CMP工艺 ,低介电常数材料和阻挡层材料 。
关键词
镶嵌技术
铜互连布线
深亚微米
集成电路工艺
下载PDF
职称材料
题名
铜互连布线及其镶嵌技术在深亚微米IC工艺中的应用
被引量:
6
1
作者
张兆强
郑国祥
黄榕旭
杨兴
邵丙铣
宗祥福
机构
复旦大学材料科学系
上海先进半导体制造有限公司
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期407-414,共8页
文摘
近几年来 ,随着 VLSI器件密度的增加和特征尺寸的减小 ,铜互连布线技术作为减小互连延迟的有效技术 ,受到人们的广泛关注。文中介绍了基本的铜互连布线技术 ,包括单、双镶嵌工艺 ,CMP工艺 ,低介电常数材料和阻挡层材料 。
关键词
镶嵌技术
铜互连布线
深亚微米
集成电路工艺
Keywords
copper interconnect
damascene technology
CMP
dielectric material
dielectric coefficient
reliability
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
铜互连布线及其镶嵌技术在深亚微米IC工艺中的应用
张兆强
郑国祥
黄榕旭
杨兴
邵丙铣
宗祥福
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2001
6
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部