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铜互连布线及其镶嵌技术在深亚微米IC工艺中的应用 被引量:6
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作者 张兆强 郑国祥 +3 位作者 黄榕旭 杨兴 邵丙铣 宗祥福 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2001年第4期407-414,共8页
近几年来 ,随着 VLSI器件密度的增加和特征尺寸的减小 ,铜互连布线技术作为减小互连延迟的有效技术 ,受到人们的广泛关注。文中介绍了基本的铜互连布线技术 ,包括单、双镶嵌工艺 ,CMP工艺 ,低介电常数材料和阻挡层材料 。
关键词 镶嵌技术 铜互连布线 深亚微米 集成电路工艺
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