铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线及应用的实验探讨

目的 利用铝楔双倍曝光法测试X线胶片特性曲线。方法 分别对铝楔、铝梯进行单倍和双倍曝光 ,将所得到铝楔、铝梯照片的单倍曝光部分和双倍曝光部分 ,用显微密度计分别进行扫描 ,把所得数据用计算机编程处理 ,得到胶片特性曲线 ,并计算出γ值 ;将两种方法所测结果相比较。结果 铝楔双倍曝光法可以测试得到连续的胶片特性曲线 ,曲线的足部和直线部显示较好 ;用该方法测出的γ值与铝梯双倍曝光法所测结果的差别在允许范围之内 ;两种方法测试所得曲线的形状相似。结论 铝楔双倍曝光法可以作为一种胶片特性曲线测试方法 ;铝楔双倍曝光法与铝梯双倍曝光法相比 ,所测曲线更连续 ,这对于程序化测试屏 片MTF曲线。

楔形Al薄膜的物理特性

采用真空蒸镀方法 ,利用液体衬底在沉积过程中的扩散 ,形成了沉积在玻璃表面的楔形铝薄膜 ,并研究了它的结构和I V特性 .实验表明 ,楔形铝薄膜的斜率仅 10 - 6 — 10 - 7,具有与一般非平整薄膜不同的I V特性 ,其非平整效应不能用普通的非平整薄膜的RRN理论模型来解释 .