原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(VI)的方法研究

应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的含量,可适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差(RSD):2.03%;检出限:0.0646mg/L;线性范围宽,校准曲线的线性相关系数应大于0.999等。有效地将铬(Ⅵ)、铬(III)分离,并有效地消除基体干扰等,完全能够适应电子电气产品中铬(Ⅵ)的测定。