银基汞膜微电极测定痕量亚硝酸根的研究

基于甲基橙亚硝化产物在银基汞膜电极上的吸附行为，提出了一种测定痕量亚硝酸根的新方法。该法在0．5mol／L H2SO4介质中，甲基橙与NO^- 2的亚硝化反应产物在银基汞膜电极上于-0．262V（vs．SCE）处可获得灵敏的吸附波。其二阶导数峰值与亚硝酸根浓度在1．4×10^-9～8．6×10^-7mol／L范围内成正比，检出限为8．0×10^-10mol／L。利用该法测定了水样中的亚硝酸根，结果令人满意。并研究了吸附溶出波行为及反应机理。