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在医用敷料中添加银离子的方法
被引量:
12
1
作者
秦益民
《纺织学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第12期109-112,共4页
为找到银离子与载体材料有效结合的方法,分析了目前国际市场上应用的各种银化合物的结构和性能,介绍了目前在国际市场上销售的各种含银医用敷料的制备方法。结果表明:由于金属银的活性很低,在使用金属银时必须保证它的颗粒很细,并且添...
为找到银离子与载体材料有效结合的方法,分析了目前国际市场上应用的各种银化合物的结构和性能,介绍了目前在国际市场上销售的各种含银医用敷料的制备方法。结果表明:由于金属银的活性很低,在使用金属银时必须保证它的颗粒很细,并且添加在材料的表面;银化合物可以与伤口渗出液中的金属离子发生离子交换,所以在使用时更容易被释放;由于银化合物和载体材料的种类很多,不同的含银医用敷料在性能上有很大的区别。
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关键词
医用敷料
银离于
抗菌性能
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职称材料
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱
被引量:
2
2
作者
潘艺永
李越生
+2 位作者
曹永明
陈维孝
宗祥福
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期158-161,共4页
用飞行时间次级离子质谱(ToF-SIMS)结合银离化方法研究了集成电路封装用环氧模塑料的主要成分——邻甲酚环氧树脂.实验中测得n=0~4的树脂分子及相应的水解成分.碎片离子中除了芳香化合物通常具有的碎片外,还有反映树脂结构的碎片.通过...
用飞行时间次级离子质谱(ToF-SIMS)结合银离化方法研究了集成电路封装用环氧模塑料的主要成分——邻甲酚环氧树脂.实验中测得n=0~4的树脂分子及相应的水解成分.碎片离子中除了芳香化合物通常具有的碎片外,还有反映树脂结构的碎片.通过对银离化碎片离子的分析,推断中间苯环上的侧链是最可能断裂的.
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关键词
银离
化
环氧树脂
邻甲酚环氧树脂
TOF
SIMS
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职称材料
用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分
被引量:
3
3
作者
潘艺永
李越生
+1 位作者
陈维孝
宗祥福
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1999年第1期13-16,共4页
用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分:邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得n=0~4的环氧树脂分子及相应的水解成分和n=1~7的酚醛树脂分子。碎片...
用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分:邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得n=0~4的环氧树脂分子及相应的水解成分和n=1~7的酚醛树脂分子。碎片离子中除了芳香化合物的特征碎片外,还有反映树脂结构的碎片。通过对环氧树脂银离化碎片离子的分析。
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关键词
银离
化
模塑料
环氧树脂
集成电路
TOF
SIMS
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职称材料
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)分析
4
作者
邓朝辉
陈维孝
宗祥福
《材料研究学报》
EI
CAS
CSCD
1995年第5期457-462,共6页
用飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)结合银离化技术,研究了两种型号的环氧树脂;发现了一些不同结构的成分。
关键词
飞行时间
次级离子质谱
环氧树脂
银离
化
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职称材料
题名
在医用敷料中添加银离子的方法
被引量:
12
1
作者
秦益民
机构
嘉兴学院生化材料研发中心
出处
《纺织学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第12期109-112,共4页
基金
浙江省自然科学基金资助项目(Y405030)
文摘
为找到银离子与载体材料有效结合的方法,分析了目前国际市场上应用的各种银化合物的结构和性能,介绍了目前在国际市场上销售的各种含银医用敷料的制备方法。结果表明:由于金属银的活性很低,在使用金属银时必须保证它的颗粒很细,并且添加在材料的表面;银化合物可以与伤口渗出液中的金属离子发生离子交换,所以在使用时更容易被释放;由于银化合物和载体材料的种类很多,不同的含银医用敷料在性能上有很大的区别。
关键词
医用敷料
银离于
抗菌性能
Keywords
wound dressing
silver ion
antimicrobial property
分类号
TS101.921 [轻工技术与工程—纺织工程]
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职称材料
题名
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱
被引量:
2
2
作者
潘艺永
李越生
曹永明
陈维孝
宗祥福
机构
复旦大学材料科学系
出处
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第2期158-161,共4页
文摘
用飞行时间次级离子质谱(ToF-SIMS)结合银离化方法研究了集成电路封装用环氧模塑料的主要成分——邻甲酚环氧树脂.实验中测得n=0~4的树脂分子及相应的水解成分.碎片离子中除了芳香化合物通常具有的碎片外,还有反映树脂结构的碎片.通过对银离化碎片离子的分析,推断中间苯环上的侧链是最可能断裂的.
关键词
银离
化
环氧树脂
邻甲酚环氧树脂
TOF
SIMS
Keywords
Time-of-flight secondary ion mass spectrometer, silver cationizadon, epoxy
分类号
O633.13 [理学—高分子化学]
TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分
被引量:
3
3
作者
潘艺永
李越生
陈维孝
宗祥福
机构
复旦大学材料科学系
出处
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1999年第1期13-16,共4页
文摘
用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分:邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。测得n=0~4的环氧树脂分子及相应的水解成分和n=1~7的酚醛树脂分子。碎片离子中除了芳香化合物的特征碎片外,还有反映树脂结构的碎片。通过对环氧树脂银离化碎片离子的分析。
关键词
银离
化
模塑料
环氧树脂
集成电路
TOF
SIMS
Keywords
TOF-SIMS, Silver cationization, Molding material
分类号
TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)分析
4
作者
邓朝辉
陈维孝
宗祥福
机构
复旦大学
出处
《材料研究学报》
EI
CAS
CSCD
1995年第5期457-462,共6页
文摘
用飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)结合银离化技术,研究了两种型号的环氧树脂;发现了一些不同结构的成分。
关键词
飞行时间
次级离子质谱
环氧树脂
银离
化
Keywords
Time-of-flight Secondary ion Mass SPeCtrometry (TOF-SIMS) epoxide resin silver cationization
分类号
TQ323.5 [化学工程—合成树脂塑料工业]
TQ016 [化学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
在医用敷料中添加银离子的方法
秦益民
《纺织学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
12
下载PDF
职称材料
2
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱
潘艺永
李越生
曹永明
陈维孝
宗祥福
《分析化学》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
2
下载PDF
职称材料
3
用飞行时间二次离子质谱法分析模塑料成分
潘艺永
李越生
陈维孝
宗祥福
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1999
3
下载PDF
职称材料
4
环氧树脂的飞行时间次级离子质谱仪(TOF—SIMS)分析
邓朝辉
陈维孝
宗祥福
《材料研究学报》
EI
CAS
CSCD
1995
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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