火焰原子吸收光谱法测定银锡焊料中的微量铅

利用四价锡的氯化物沸点较低的性质,将锡挥发除去,并用硫脲络合银离子,以消除银和锡对铅测定的干扰。制定了火焰原子吸收光谱法测定银锡焊料样品中微量铅的分析方法。方法准确、可靠、简便、快速,完全适用于银锡焊料中微量铅的检验。

铝片还原-碘量法测定银锡二元合金中锡

用硝酸和硫酸溶解试样后,加入盐酸(1+1)沉淀分离银,从而消除了银对测定的影响。在隔绝空气的条件下,将高价锡用铝片还原至二价,采用碘量法测定银锡二元合金中的锡。对银锡二元合金标样进行精密度考察,相对标准偏差(RSD,n=6)均小于3%;对银锡二元合金标样进行准确度考察,测定值与认定值一致。

银锡双金属催化剂的制备及其对氧还原的催化性能

在乙醇为溶剂和还原剂、碳粉为载体的体系中,采用水热法将Ag+或Ag+-Sn2+还原,形成纳米多孔网状结构的Ag或Ag-Sn双金属纳米颗粒,制备碳粉负载的Ag/C和Ag-Sn/C催化剂。利用循环伏安和线性扫描技术,研究了碱性溶液中这些催化剂对氧还原反应(ORR)的电活性。研究表明,Ag/C和Ag-Sn/C对ORR均表现出强的电催化活性,它们对ORR的起始电位约0.05 V(vs.Ag/AgCl)。在Ag97Sn3/C催化剂上,ORR的电流密度为2.87×10-3A/cm2(800 r/min),高于Ag/C。Levich方程分析表明,在Ag-Sn/C催化剂上,ORR转移电子数明显大于Ag/C,说明在Ag-Sn/C催化剂上,氧气能够较为彻底被还原。此外,在甲醇存在下,Ag/C和Ag-Sn/C对ORR的活性基本保持不变,表明它们对甲醇有较强的耐受力。

利用银锡共晶键合技术的MEMS压力传感器气密封装

为了提高MEMS压力传感器的气密封装效果,利用银锡(Ag-Sn)焊片共晶键合的方法实现封装.首先介绍了工艺流程,然后利用X射线能谱(EDX)和剪切强度分析对共晶键合的温度和时间参数进行了优化,接着对9组静载荷下的剪切强度、Ag-Sn合金分布和键合层断面做了对比分析,最后做了X光检测、氦泄漏率对比测试及MEMS压力传感器实际效果测试.实验结果表明,在温度为230℃、加热时间为15 min、静载荷范围为0.003 9 MPa～0.007 8 MPa时,MEMS压电传感器的平均剪切强度达到14.22 MPa～18.28 MPa,X光检测无明显空洞,氦泄漏率不超过5×10-4Pa.cm3/s,测试曲线表明线性度较好.

不同前处理方法测定银锡焊料中3种重金属元素

选用银含量为3%、30%和70%的银锡焊料样品,分别经过三种不同前处理方法,采用硝酸、盐酸消解,应用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)同时测定锡铅合金中镉、铅、汞3种重金属元素含量。实验研究了不同前处理方法对银锡合金中重金属测定的影响。实验表明消解实验中的共沉淀现象会对3种重金属元素的测定产生不利的影响,回收率不能满足要求;采用硝酸消解,过滤残渣经王水消解的方法,镉、铅、汞的7次测定重复性相对标准偏差在2.7%~5.5%、加标回收率在85.6%~103%,能够满足RoHS测试要求。

ChCl-Urea低共熔溶剂中银锡合金的电沉积行为研究

以氯化胆碱-尿素(ChCl-Urea)低共熔溶剂为基础液,电沉积制备银锡合金镀层,采用循环伏安曲线、计时电流曲线对银锡合金的电化学过程进行分析,使用扫描电子显微镜(SEM)对银锡合金镀层微观形貌进行研究,利用极化曲线对银锡合金镀层的耐蚀性进行分析。结果表明,ChCl-Urea低共熔离子液体体系中,银锡的成核方式为三维瞬时成核;在不同电位条件下电沉积得到的镀层微观形貌均为枝晶状;随着沉积电位的增大,腐蚀电流减小,银锡合金镀层的耐腐蚀效果变好。

发射光谱法测定化探样品中的银锡

发射光谱法同时测定化探样品中的银锡,以焦硫酸钾、氟化钠、氧化铝、石墨粉为缓冲剂,锗为内标,其检出限为Ag0.02μg/g,Sn1.0μg/g。通过多次实验,对实验条件进行选择和优化。采用国家一级标准物质的样品验证,测定结果与标准值相符。

基于非线性拟合方法预测与优化银锡多金属矿磨矿细度

针对银漫选矿厂磨矿粒度组成呈两极分化、银矿物需细磨而锡石需粗磨之间的矛盾,提出依据原矿银锡品位比精准调控磨矿细度。同时,以原矿银锡品位比为自变量,建立了磨矿细度和矿物解离度的预测模型。拟合结果表明,当处理高银低锡矿石时,需采用较细的磨矿细度,促进硫化矿物的单体解离;当处理低银高锡矿石时,需采用相对较粗的磨矿细度,降低锡石过粉碎现象。参考拟合曲线进行的工业调试结果显示,与采用单一磨矿细度相比,铜、银、锌、锡的回收率分别可以提高6.44、11.08、16.37和9.80个百分点,实现了磨矿细度的预测及各有价元素的高效综合回收。

发射光谱法对地质样品中银锡的同时测定

对地质样品中所含化学元素种类与含量的测定是国土资源地质调查工作的重要内容。目前,对地质样品中银锡元素的测定通常采用发射光谱法。本文简要介绍了发射光谱法的原理与应用,着重分析了发射光谱法测定地质样品中银锡元素的操作要点与注意事项。

发射光谱法测定化探样品中的银锡

本文以焦硫酸钾、氟化钠、氧化铝、石墨粉、氧化锗混合物为缓冲剂,用锗做内标,截取曝光,用发射光谱法同时测定化探样品中的Ag、Sn,其检出限为Ag0.020μg.g-1,Sn1.0μg.g-1;精密度为Ag5.7%,Sn6.7%。采用国家一、二级标准物质水系沉积物、岩石、土壤的样品验证,方法可靠,测定结果与标准值一致。

发射光谱法同时测定化探样品中银锡钼钨

采用硫酸钾-氟化铵混合溶液做缓冲剂,通过氟化反应,实现了难挥发元素一次摄谱,同时对Ag、Sn、Mo、W等元素连续测定。本法适用于化探样品中Ag(0.03～l0.0)×10-6,Sn(0.4～100)×10-6,Mo(0.04～100)×10-6,W(1～100)×10-6的测定。方法经GBW和GRD系列国家标准样品分析检验,结果与标准值基本相符,此法简便、快速、易掌握。

CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪测定土壤样中的银锡及注意事项

CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪在现代化岩矿测试中应用较为广泛,尤其是在土壤样品中Ag、Sn、B等元素的测试工作中更为广泛,为金属矿床深部找矿奠定了基础。本文以不同矿区的4件土壤样品为例,通过12次平行实验,取得了精密度和准确度可靠的测试结果,说明CCD-Ⅰ型平面光栅电弧直读发射光谱仪在土壤样品Ag、Sn元素测定工作中具有良好的应用效果;该方法能够同时测定多种元素,提高了测试效率。

能量色散型X荧光光谱仪测定银锡合金中的锡、铋、铜含量

使用能量色散型X射线荧光光谱仪测试银锡合金中的3个元素(Sn、Bi、Cu),针对银锡合金中各元素的含量范围使用自制的标准样品绘制工作曲线。对制样方法、测试时间、准直器大小、样品粗糙度、分析谱线等影响因素进行了试验,确定了最佳分析条件,该方法可无损、快速、准确测量样品,极大地提高了检测效率,降低了检测成本。

发射光谱法分析化探样品中的银锡元素

选取一米平面光栅摄谱仪器可进行两次重叠摄谱测定,选取氧化锗0.007g,焦硫酸钾23g,分析纯氟化钠20g,分析纯氧化铝45g,石墨粉15.6g作为缓冲剂,最终依据国家标准GBW07301经过15次测定,选取多个样本,多角度,多方位进行测量,银锡元素检出限分别为Ag:0.02μg/g,Sn:0.23μg/g,精密度为Ag:5.7%,Sn:6.7%。

发射光谱法分析化探样品中的银锡元素

发射光谱法所用材料研究主要采用二氢硫酸钾、二氢氧化、二氢硫酸钾、氟化钠、氧化铝、石墨粉、氧化锗等光谱材料作为组合光谱材料并可作为发射实验室主要所用光谱材料。选用一种纯洁白色或者一种薄颈杯子形状的白色荧光剂在光子照射电极时对它发光可分别反复进行两次重叠电子衍射即可形成白色光谱,锗作为内样 品进行截获曝光。同时大大降低了无线荧光谱中射线和颜色背景的反射温度同时,获得了稳定的荧光反射无线电弧荧光波和反射火焰。该化探分析方法应用后,可大大提高化探分析方法对样品中银、锡、氧化铜综合化学分析整体化学结果的准确性,它是一种非常好的分析银和锡的化学方法。

发射光谱法测定生态地球化学调查样品中的银锡硼

银、锡、硼作为生态地球化学调查样品中的重要检测元素,在检测方法方面要求也较高,不仅要满足检测结果的精密、准确,更要求检测条件的检出限和谱线背景。本文通过概述发射光谱法的原理,比较不同发射光谱法间区别,对电弧发射光谱法进行详细的分析。

某些金属元素对Ag-Sn合金内氧化速度的影响

在 0 4～ 0 6MPa氧压力 ,50 0和 70 0℃下研究了某些金属元素对Ag -Sn合金内氧化速度的影响。还用SEM研究了Ag - 6 5Sn - 1 1Bi- 0 6Cu合金内氧化层的微观结构。结果表明 ,氧化层厚度与时间成抛物线关系。添加金属元素对Ag -Sn合金的内氧化速度有明显的影响 ,易氧化的金属元素能加速Ag -Sn合金内氧化。氧化物以微细颗粒分布在银基体中 ,发现在晶界处有部分氧化物聚集 ,并且有 2～