发射光谱法测定化探样品中的银锡

本文以焦硫酸钾、氟化钠、氧化铝、石墨粉、氧化锗混合物为缓冲剂,用锗做内标,截取曝光,用发射光谱法同时测定化探样品中的Ag、Sn,其检出限为Ag0.020μg.g-1,Sn1.0μg.g-1;精密度为Ag5.7%,Sn6.7%。采用国家一、二级标准物质水系沉积物、岩石、土壤的样品验证,方法可靠,测定结果与标准值一致。