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Ag-Pd端电极分离失效分析案例研究
1
作者
钱雨鑫
姚宏旭
楼倩
《电子产品可靠性与环境试验》
2015年第4期18-21,共4页
以压敏电阻为研究对象,探讨了电阻的可焊端与本体发生分离的原因。结果表明,在焊接的过程中,Ag-Pd端电极中的Ag与焊料中的Sn会形成低熔点合金物质,从而导致了可焊端与本体发生分离。因此,建议在焊接电阻的本体和Ag-Pd镀层端子的过程中,...
以压敏电阻为研究对象,探讨了电阻的可焊端与本体发生分离的原因。结果表明,在焊接的过程中,Ag-Pd端电极中的Ag与焊料中的Sn会形成低熔点合金物质,从而导致了可焊端与本体发生分离。因此,建议在焊接电阻的本体和Ag-Pd镀层端子的过程中,使用导电胶粘结工艺,以防止焊接过程中,Ag在高温下与焊料中的Sn反应而影响焊接的质量。
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关键词
银-钯端电极
失效分析
溶蚀
扫描电镜
能谱
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职称材料
题名
Ag-Pd端电极分离失效分析案例研究
1
作者
钱雨鑫
姚宏旭
楼倩
机构
工业和信息化部电子第五研究所
宁波赛宝信息产业技术研究院有限公司
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2015年第4期18-21,共4页
文摘
以压敏电阻为研究对象,探讨了电阻的可焊端与本体发生分离的原因。结果表明,在焊接的过程中,Ag-Pd端电极中的Ag与焊料中的Sn会形成低熔点合金物质,从而导致了可焊端与本体发生分离。因此,建议在焊接电阻的本体和Ag-Pd镀层端子的过程中,使用导电胶粘结工艺,以防止焊接过程中,Ag在高温下与焊料中的Sn反应而影响焊接的质量。
关键词
银-钯端电极
失效分析
溶蚀
扫描电镜
能谱
Keywords
Ag
-
Pd electrode
failure analysis
corrosion
SEM
EDS
分类号
TM54 [电气工程—电器]
TM507 [电气工程—电器]
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作者
出处
发文年
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1
Ag-Pd端电极分离失效分析案例研究
钱雨鑫
姚宏旭
楼倩
《电子产品可靠性与环境试验》
2015
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