期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
Ag-Pd端电极分离失效分析案例研究
1
作者 钱雨鑫 姚宏旭 楼倩 《电子产品可靠性与环境试验》 2015年第4期18-21,共4页
以压敏电阻为研究对象,探讨了电阻的可焊端与本体发生分离的原因。结果表明,在焊接的过程中,Ag-Pd端电极中的Ag与焊料中的Sn会形成低熔点合金物质,从而导致了可焊端与本体发生分离。因此,建议在焊接电阻的本体和Ag-Pd镀层端子的过程中,... 以压敏电阻为研究对象,探讨了电阻的可焊端与本体发生分离的原因。结果表明,在焊接的过程中,Ag-Pd端电极中的Ag与焊料中的Sn会形成低熔点合金物质,从而导致了可焊端与本体发生分离。因此,建议在焊接电阻的本体和Ag-Pd镀层端子的过程中,使用导电胶粘结工艺,以防止焊接过程中,Ag在高温下与焊料中的Sn反应而影响焊接的质量。 展开更多
关键词 银-钯端电极 失效分析 溶蚀 扫描电镜 能谱
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部