采用中等色散率ICP光谱仪测定铽基体中痕量稀土杂质

众所周知,许多稀土元素的光谱是十分复杂的,稀土元素的谱线越多,谱线干扰的可能性也就越大。在这种情况下,常常难以找到完全不受干扰的谱线。为了降低稀土谱线间的光谱干扰,往往都采用高色散率的光谱仪器来解决复杂的稀土分析问题。曾有一些以中等色散率的仪器分析稀土元素的报道,但分析对象的光谱均较为简单,或者在测定前把基体预先除去,或者仅测定其中少数几个稀土元素。 Tb是稀土元素中光谱最为复杂的元素之一,据报道Tb的光谱线可达3400条之多。本文采用中等色散率光谱仪测定Tb基体中的痕量稀土杂质。