HL-1M装置锁模不稳定性研究

研究了 HL - 1M装置上锁模不稳定性和密度极限破裂。锁模不稳定性通常出现在低密度的实验中 ,在软 X射线和 Mirnov磁扰动上都观察到了频率相同的先兆振荡 ,其时间尺度为10 ms。边缘温度的突然下降是产生锁模不稳定性的重要标志。锁模出现几毫秒后时常发生大破裂。

HL—1M装置锁模不稳定性研究

在大型托卡马克装置中，各种线圈安装的微小偏差将会引起严重的误差场不稳定性，导致锁模类在大破坏，因此，锁模不稳定性是研究误差场不稳定性的基础。本文分析了H-1M装置锁模不稳定性的产生条件及其特点，并提出抑制锁模不稳定性的参考建议。