飞机货舱门锁闩机构运动可靠性分析

飞机货舱门锁闩机构在舱门打开阶段协助提升电机进行舱门预位,磨损产生的铰链间隙会引起输出角度误差,降低锁闩机构运动可靠度。为了分析铰链磨损对于锁闩机构运动可靠度的影响,根据锁闩机构工作原理建立可靠度计算模型;建立货舱门刚柔耦合动力学模型计算铰链接触力;采用Archard磨损模型计算铰链磨损量,基于等效杆长理论将铰链磨损量转换成杆长变化量,建立参数化模型进行可靠度分析;利用孔销接触模型进行可靠度结果验证。结果表明:该可靠度分析方法能够保证计算精度,提高分析效率。

带锁闩机构紧急停止电器的新规定

一、概述在生产和运行过程中，为了安全，常采用一些紧急操作措施，以避免或减少因意外事故对人员设备或生产运行过程带来的损害，常用的紧急操作措施可由以下几种方式单独或组合构成。紧急停止：用来停止已发生危险的过程或运动的紧急操作；紧急起动：通过起动某一过程或...

货舱门锁闩机构系统全变量多目标优化设计

针对飞机货舱门的锁闩机构系统,提出了一种全变量多约束的多目标优化方法。建立了以机构骨架尺寸、交点位置、驱动角度为变量,以货舱门结构空间的限制、机构零件间装配运动间隙要求为约束条件,以锁闩系统的功能性要求和机构骨架总长最小为优化目标的数学模型。通过Fmincon函数计算分析优化,减小了锁闩系统的占用空间,降低了机构质量和成本,提高了锁闩系统的精度和功能,满足了设计要求,为货舱门锁闩机构系统设计提供了参考。

锁闩装置在升船机中的应用

锁闩装置是防撞装置中的一个部件。该部件设计合理,构思巧妙,运行平稳、可靠,虽然装置很小,但是,工作原理设计巧妙。锁闩装置既然能够被合理应用于升船机中,那么,它也可以应用于其他行业的机械设备中。

怎样为封闭场所选用合适的锁闩

为了避免损失,在设计过程的早期就要考虑门用五金配件。面对如此众多的门用五金配件(不同的锁闩结构、不同的人体工学适合度和不同的综合审美角度)对设计工程师来说,要为合适的锁闩找到适当的解决方案好像不是什么难事。但是。

三阱CMOS工艺单粒子闩锁研究

随着数模混合电路在无线应用领域的发展,三阱工艺噪声隔离优点引起设计师的广泛兴趣。RF技术必须把在P-衬底上的模拟、数字和RF电路进行隔离。本文主要讨论三阱(Triple-Well)工艺的电路单粒子闩锁问题。

集成电路的闩锁测试

基于闩锁测试标准中提供的方法和流程,本文针对复杂集成电路中包含的特殊性质的管脚,对实际闩锁测试过程中特殊性质引脚的处理方法及注意事项进行了详细的阐述,为测试人员正确理解并执行集成电路闩锁测试标准提供了依据,也为准确评估集成电路的抗闩锁能力奠定了基础。

基于修正雅可比旋量模型的C形闩机构偏差分析及优化

使用基于修正雅可比旋量模型的容差分析方法,对引导锁C形闩机构中C形闩的安装位置、运动精度进行分析,与3DCS软件结果进行对比,验证方法适用性。引用机器人运动学相关理论,将静态容差分析拓展到动态容差分析,对C形闩在运动过程中的位置精度进行分析,使用基于Taguchi的容差贡献度、灵敏度对其进行优化分析及容差设计,得出影响较大的因子。

SRAM K6R4016V1D单粒子闩锁及防护试验研究

本工作利用脉冲激光单粒子效应模拟试验装置对三星公司的SRAM K6R4016V1D进行了单粒子闩锁效应试验研究。试验测得了此器件的单粒子闩锁效应脉冲激光能量阈值、闩锁截面曲线和闩锁电流。针对这款器件,还对工程中防护闩锁过流常用的限流和断电方法进行了试验研究。试验结果表明,该器件具有非常低的单粒子闩锁效应阈值能量和很高的闩锁饱和截面,对空间辐射环境极其敏感。

微小卫星单粒子闩锁防护技术研究

对于在轨微小卫星而言,单粒子闩锁(Single Event Latchup,SEL)是最具破坏性的单粒子效应之一,其后果轻则损坏器件,重则使在轨卫星失效。首先介绍了SEL发生机理,分析并总结现有抗SEL的关键技术。其次提出了空间单粒子闩锁防护措施并设计了一种可恢复式抗SEL电源接口电路,实现对卫星星上设备的防闩锁及过流保护。最后利用脉冲激光模拟单粒子效应技术对具有飞行经验的芯片进行实验测试。实验结果表明,该电路能够准确地检测SEL的发生,有效解除SEL效应,保证系统运行稳定可靠。

空间电子系统FPGA抗单粒子闩锁设计

宇宙空间中存在高能粒子。这些粒子会导致空间电子系统中FPGA发生闩锁。为了避免FPGA闩锁时发生损坏,采用2个稳压器并联供电,在FPGA完成配置后自行关断1个稳压器。由于FPGA配置期间需要大电流,所以采用2个稳压器并联供电。当配置完成后关断1个稳压器,只由1个稳压器供电。如果FPGA发生闩锁,剩下的1个稳压器将会限流,从而避免FPGA被大电流烧毁。关断电路由电阻和电容组成的延时电路控制稳压器使能端实现。实验结果表明:FPGA配置期间2个稳压器都处于输出使能状态,可以提供3.6 A的电流,FPGA可以成功的配置;FPGA配置结束后,则只有1个稳压器给FPGA供电,把电流限制在0.6 A,从而避免FPGA由于闩锁而损坏。该设计可以使得工业级的FPGA应用于空间电子系统中,降低系统成本。

基于LDO限流技术的辐射闩锁防护技术

讨论了CMOS器件受辐射感生的闩锁与电气感生的闩锁的异同点,研究并提出了一种基于限流型低压降线性调整器的闩锁防护方法,给出了卫星用线性调整器电路的地面总剂量摸底试验数据及空间飞行试验验证结果和解决星载计算机的闩锁防护与恢复问题的有效方法.

卫星单粒子闩锁异常的诊断与自动报警

卫星的单粒子闩锁异常发生初期隐蔽性强、不易诊断,如果长时间得不到有效处置将产生严重危害。根据卫星的实际管理经验,卫星的负载电流和蓄电池温度状态参数中隐含着此类异常发生的信息,但这2个状态参数受各种干扰的影响会出现较大的波动,很难直接利用其对闩锁异常进行准确识别。针对此问题,首先通过经验模态分解和边际谱分析方法分别从负载电流和蓄电池温度中提取集成电子器件单粒子闩锁异常的典型特征,然后对2种典型特征进行二值模糊综合判断,由判断结果即可得到故障发生概率的大小。当该概率大于50%时,即认为故障发生,由此实现异常初期的自动报警。

基于SCR的ESD保护电路防闩锁设计

SCR器件作为目前单位面积效率最高的ESD保护器件,被广泛研究并应用到实际电路中。SCR所具有的低保持电压特性可以带来很高的ESD性能,但同时也会导致闩锁。文章从提高保持电压和触发电流这两方面入手,研究在实际电路应用中如何防止ESD保护电路发生闩锁。

不同γ脉冲宽度下CMOS电路闩锁阈值的数值模拟

采用MEDICI软件,用电流注入和X射线辐照两种方法,对瞬态辐照引起的CMOS电路的闩锁特性进行模拟,研究了闩锁阈值与脉冲宽度的关系;将计算结果与实验测量结果进行比较,结果表明:随着脉冲宽度的增加,辐射损伤的剂量率阈值随之降低,而辐射损伤的总剂量阈值随之增加,CMOS电路的剂量率闩锁阈值与脉冲宽度的倒数成正比。

功率集成电路中一种抗闩锁方法研究

在分析功率集成电路中闩锁效应的基础上,采取一种抗闩锁方法,即在高低压之间做一道接地的少子保护环。通过对环的电位、位置和宽度的研究,利用软件工具Tsuprem4和Medici进行模拟比较,并应用于实际版图中进行流片。这种保护结构可以将闩锁的触发电压提高一个数量级,在实际的闩锁静态测试中得到验证。

星载计算机SRAM单粒子微闩锁检测方法

静态随机存储器(SRAM)的单粒子微闩锁(mSEL)现象可能引起星载计算机运行崩溃,威胁整星运行安全.传统的闩锁电流检测方法难以发现mSEL,国内外研究成果至今没有给出令人满意的具体可行的星上mSEL检测方案,也没有航天工程应用实例.根据SRAM发生mSEL时的错误簇现象,设计了基于EDAC编解码的mSEL检测方案,介绍了软硬件架构,提出了两种检测策略并研究讨论了其性能.其中遍寻策略实现简单、性能稳定,随机搜索策略实现开销大,在某些场景中90%,检出率的要求下,检测速度达到遍寻策略的8.5倍.本文提出的方法能够提高空间应用中SRAM器件可靠性,降低由mSEL引发的系统失效概率.

三值闩锁和锁存器的结构研究

本文从存贮功能的数学表述出发,分别就模代数和格代数等两种情况系统地研究了三值闩锁的各种结构。此外,根据对闩锁输入待存贮信号的能力要求,本文归纳了用“与”门,“或”门和二选一数据选择器中断反馈环路的设计技术,并在此基础上设计了三值锁存器。

空间通信设备的辐射闩锁故障及对策

随着空间技术的发展,空间通信将变得越来越重要,基于SRAM的FPGA是空间通信设备中的首选器件。而CMOS晶体管是实现FPGA的主要微电子器件。文章分析了在空间通信中,辐射对微电子器件产生的影响,详细阐述了CMOS的闩锁现象,并提出了一种防治闩锁的方法。

体硅CMOS电路瞬时电离辐射下的自洽防闩锁机理分析

体硅互补型金属-氧化物-半导体集成电路含有寄生4层可控硅结构,当工作在瞬时γ射线脉冲辐射环境下时易发生闩锁,导致电路失效,甚至烧毁,所以电路防闩锁研究意义重大。本文通过求解寄生晶体管中少数载流子连续性方程的方法,分析了辐射光电流在寄生4层可控硅结构中的持续时间,提出了集成电路自洽防闩锁的条件,并得到了自洽防闩锁条件随γ射线剂量率的变化关系。对4层可控硅等效电路和体硅集成电路分别进行了瞬时辐射实验,实验结果与理论分析结果基本一致,验证了理论分析的正确性。