全差示光度法测定大范围含量锗

对于含储量在百分之几至几十的样品,长期以来,国内外几乎都采用容量法测定,但容量法干扰多,分析流程长,准确度也不理想。我们探索了用全差示光度法测定大范围含量锗,并研制成功了相应的锗分析仪。与传统方法比,具有显著的优越性,为高锗的分析提供了一种快速准确的新手段。

全差示光度法联测锗富集物中锗硅

试验在同一份处理好的试样中,采用低温蒸干排除锗的干扰,比色测定硅;采用全差示光度法测定锗,该方法适应于锗富集物中硅0.5%～10.0%、锗1.0%～40%含量范围的测定。