构件特别是第三方构件的可靠性及安全性是影响构件技术发展的重要因素之一.目前在构件安全漏洞的测试方法和技术方面研究还不够深入.提出了一种构件安全测试错误注入模型FI M(fault injection model of component security testing),并...构件特别是第三方构件的可靠性及安全性是影响构件技术发展的重要因素之一.目前在构件安全漏洞的测试方法和技术方面研究还不够深入.提出了一种构件安全测试错误注入模型FI M(fault injection model of component security testing),并对FI M模型的相关定义及其矩阵形式进行了详细阐述,同时基于FI M模型给出了一种错误注入测试用例生成算法TGSM(test-case generating based on solution matrix).TGSM算法根据矩阵形式的FI M模型生成满足K因素覆盖的解矩阵,解矩阵的所有行数据组成了错误注入测试用例.在研究项目CSTS(component securitytesting system)中实现了FI M模型,实验结果表明FI M生成的三因素覆盖错误注入测试用例效果显著,能用适当的测试用例触发绝大部分构件安全异常.FI M模型具有较好的可操作性及可用性.展开更多
单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子...单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子软错误防护的难点.寻找SDC脆弱指令是目前检测SDC的重要途径.现有方法需要进行巨量的错误注入,时间代价巨大.首先根据数据关联图建立了指令的数据依赖关系,研究了函数间和函数内部错误传播过程;进而推导出判定SDC脆弱指令的充分条件,提出了SDC脆弱指令识别方法,该方法在错误注入中依据充分条件推测潜在的SDC脆弱指令.实验表明,在保证较高准确率和覆盖率的前提下,时间代价显著减少.展开更多
文摘单粒子软错误是高辐照空间环境下影响计算可靠性的主要因素.随着芯片晶体管数的快速增长,单粒子软错误的威胁日益严重.结果错误(silent data corruption,SDC)是单粒子软错误造成的一种故障类型.由于SDC是隐蔽传播的,SDC的检测是单粒子软错误防护的难点.寻找SDC脆弱指令是目前检测SDC的重要途径.现有方法需要进行巨量的错误注入,时间代价巨大.首先根据数据关联图建立了指令的数据依赖关系,研究了函数间和函数内部错误传播过程;进而推导出判定SDC脆弱指令的充分条件,提出了SDC脆弱指令识别方法,该方法在错误注入中依据充分条件推测潜在的SDC脆弱指令.实验表明,在保证较高准确率和覆盖率的前提下,时间代价显著减少.