高可靠微处理器结构与实现(英文)

文章介绍了抗单粒子翻转容错处理器NBHARK的结构与实现,采用了改进的优化奇权重列编码方法纠检寄存器文件的瞬时错误。提出了多种有效方法提高整个处理器可靠性,如三模冗余内部临时寄存器,三模冗余时钟,片上EDAC,奇偶校验,强制cache缺失等。该芯片在smic0.18μmCMOS工艺投片。辐射试验表明,粒子注入(>50,000)引起的单粒子翻转错误均成功纠正。试验采用252Cf辐射源,3.5uCi,以及43MeV.cm2/mg平均LET进行。

基于CPLD的容错存储器的设计实现

分析了存储器产生错误的原因 ,提出了提高其可靠性的有效途径。结合航天计算机可靠性增长计划 ,给出了一套利用纠检错芯片对其进行容错的方案 ,并给出了通过 CPL D器件实现的仿真结果。最后对容错存储器的可靠性进行了分析。