[Bi_(1-x)(Sn_(0.5)Pb_(0.5))_x]_2Sr_2CaCu_2O_y材料的X-ray衍射研究

以X射线物相分析为主要实验手段，并结合正电子寿命谱和多普勒展宽谱和电阻测量，系统地研究了在不同的锡（铅）掺杂量下，Bi－2212超导相结构细节及电子态的变化。在低掺杂时，Sn^(4+)优先占据Bi位．导致了载流子浓度的提高和层间耦合的加强，有利于超导转变温度的提高。随着掺杂浓度的提高，少量Sn将进入CuO_2层，致使其完整性被破坏；同时有更多的杂相拆出，对材料的超导电性有破坏作用。