CRH5型动车组用IGBT器件寿命评估

半实物仿真计算结果表明,CRH5型动车组四象限整流侧IGBT器件寿命大于逆变侧。典型线路计算时,器件最小寿命约为780万km;进行寿命相关的测试表明,与全新同型号IGBT器件相比,运行480万km的IGBT器件芯片及DBC焊层超声波扫描未出现分层现象;饱和压降及键合点推力测试表明,键合线根部已经出现裂纹,饱和压降平均值比全新器件增加0.196%,IGBT芯片键合线推力均值由全新的2 800 g降低到2 400 g, FRD芯片键合线推力均值由全新的2 800 g降低到2 600 g及2 300 g,退化后的测试电学参数均在额定值以内,未达到寿命失效标准。