期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
镀钯键合铜丝的发展趋势 被引量:14
1
作者 康菲菲 杨国祥 +3 位作者 孔建稳 刀萍 吴永瑾 张昆华 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第21期104-107,128,共5页
铜丝表面镀钯是提高抗氧化性进而改善键合性能的有效手段。镀钯键合铜丝具有优异的综合性能,是半导体封装材料连接导线的新型材料。综述了镀钯键合铜丝国内外的发展现状、研究背景、镀钯工艺及金丝、铜丝和镀钯铜丝的比较。
关键词 金属材料 半导体封装 镀钯键合铜丝 性能
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部