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镀钯键合铜丝的发展趋势
被引量:
14
1
作者
康菲菲
杨国祥
+3 位作者
孔建稳
刀萍
吴永瑾
张昆华
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第21期104-107,128,共5页
铜丝表面镀钯是提高抗氧化性进而改善键合性能的有效手段。镀钯键合铜丝具有优异的综合性能,是半导体封装材料连接导线的新型材料。综述了镀钯键合铜丝国内外的发展现状、研究背景、镀钯工艺及金丝、铜丝和镀钯铜丝的比较。
关键词
金属材料
半导体封装
镀钯键合铜丝
键
合
性能
下载PDF
职称材料
题名
镀钯键合铜丝的发展趋势
被引量:
14
1
作者
康菲菲
杨国祥
孔建稳
刀萍
吴永瑾
张昆华
机构
贵研铂业股份有限公司
出处
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第21期104-107,128,共5页
基金
昆明贵金属研究所基金(GY-10-RD03)
文摘
铜丝表面镀钯是提高抗氧化性进而改善键合性能的有效手段。镀钯键合铜丝具有优异的综合性能,是半导体封装材料连接导线的新型材料。综述了镀钯键合铜丝国内外的发展现状、研究背景、镀钯工艺及金丝、铜丝和镀钯铜丝的比较。
关键词
金属材料
半导体封装
镀钯键合铜丝
键
合
性能
Keywords
metal material, semiconductor packaging, the Pd-plated copper bonding wire, bonding property
分类号
TS292 [轻工技术与工程—农产品加工及贮藏工程]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
镀钯键合铜丝的发展趋势
康菲菲
杨国祥
孔建稳
刀萍
吴永瑾
张昆华
《材料导报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
14
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