-
题名钻孔密度对镀铜均匀性影响研究
- 1
-
-
作者
谢军
石学兵
樊廷慧
陈春
李波
-
机构
深圳市金百泽电子科技股份有限公司
-
出处
《印制电路资讯》
2021年第3期95-97,共3页
-
文摘
随着5G通讯领域建设的不断推进、5G信号速率的提升,5G相关应用产品功能的提升会提升高密度PCB的需求;其核心指标为幅度极差≤1.0db。而要实现此指标要求,对PCB的铜厚均匀性、线宽的精准度、层间对准度、层间介质厚度、背钻深度的控制精度等的要求都提高到了一个新的台阶。本文主要对整板镀铜均匀性进行研究,通过不同镀铜参数对密集钻孔区域的铜厚变化进行数据分析,通过镀铜参数调整和钻孔设计优化,为提高铜厚均匀性提供改善方向和建议,以供同仁参考。
-
关键词
镀铜均匀性
钻孔密度
电镀参数
-
分类号
TN4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名阻焊印刷工艺中BGA偏位问题的改良探讨
- 2
-
-
作者
陈斐健
陈世金
韩志伟
徐缓
-
机构
博敏电子股份有限公司
-
出处
《印制电路信息》
2017年第7期58-64,67,共8页
-
基金
2015年广东省"扬帆计划"先进印制电路关键技术研发及产业化项目(项目编号:2015YT02D025)
2015年广东省应用型科技研发专项资金项目(项目编号:2015B010127008)的支持
-
文摘
对于阻焊制作来说,阻焊剂上BGA的PAD的影响因素很多。本文从各因素的影响原理出发,分析了压合、电镀、图形转移、阻焊曝光能量等因素对BGA焊盘的影响,确定了各因素影响BGA油墨上PAD的理论范围,为阻焊BGA曝光制作及制程能力提升提供参考依据。
-
关键词
镀铜均匀性
压合
涨缩系数
球栅阵列尺寸
曝光能量
-
Keywords
Copper Plating Uniformity
Lamination
Higher Shrinkage Coefficient
BGA Size
Exposure Energy
-
分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名VCP制程优化及设备对比探究
- 3
-
-
作者
胡金平
钟俊昌
-
机构
深圳市贝加电子材料有限公司
-
出处
《印制电路信息》
2016年第A01期127-138,共12页
-
文摘
在当前诸多公司引进了垂直连续电镀(简称VCP)电镀线的趋势下,本课题以不同VCP实际生产线情况为研究对象,通过试验对比及生产数据搜集,发现在优化液位高度、挂架间距、夹板深度后,使用合适的底屏、边屏高度,可有效改善垂直方向板件的电力线分布均匀性,减少电镀过程“边缘效应”的影响,从而提高镀层均匀性。通过设备差异对比分析,底屏及边屏分别移动3mm和15mm,对板底位置镀铜厚度与整板平均厚度值差会有约4%的影响。经过优化底屏、边屏高度后,配合我公司(贝加尔)药水,可将整板镀铜均匀性变化率(简称COV)值由7.96%优化至3.14%,甚至更低。
-
关键词
垂直连续电镀
镀铜均匀性变化率
镀铜厚度
-
Keywords
VCP
COV
Plate Thickness
-
分类号
TN41
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-