-
题名镁合金抛光机理与CMP工艺研究
被引量:5
- 1
-
-
作者
陈景
刘玉岭
王晓云
王立发
马振国
武亚红
-
机构
河北工业大学微电子研究所
-
出处
《微纳电子技术》
CAS
2008年第2期114-117,122,共5页
-
基金
国家自然科学基金资助项目(10676008)
-
文摘
将化学机械抛光(CMP)技术引入到镁合金片(MB2)的抛光中,打破过去镁合金以单一化学或机械加工为主的加工手段,用自制的抛光液对镁合金片进行抛光实验。结果发现,抛光液中加入双氧水易产生胶体,不利于抛光的进行,因此提出无氧化剂SiO2碱性抛光。同时分析了镁合金的抛光机理,抛光中压力、转速和抛光液流量参数对抛光过程的影响,利用Olympus显微镜对抛光前后镁合金表面进行观察,通过合理控制工艺参数,能够得到较佳的镁合金抛光表面,远优于单一的机械加工,为镁合金抛光工艺和进一步研究抛光液的配比奠定了基础。
-
关键词
镁合金(mb2)
化学机械抛光
抛光机理
抛光速率
抛光液
-
Keywords
Mg alloy (mb2)
chemical-mechanical polishing (CMP)
polishing mechanism
polish rate
slurry
-
分类号
TG146.22
[金属学及工艺—金属材料]
TN305.2
[电子电信—物理电子学]
-