X-射线荧光光谱仪测定镉饼中的Cd的方法研究

本文研究了使用X荧光光谱法对镉饼中Cd元素的含量进行快速定量分析的方法,通过仪器参数选择与优化、谱线选择以及方法的校准,并建立了定量分析方法。同时对新方法的准确度和精密度进行对照试验验证,试验结果表明分析结果均在允许误差范围内。该方法简便易行,准确可靠,满足实际生产中对镉饼中Cd元素的测定要求。