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电磁开腔品质因数Q的计算 被引量:3
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作者 夏军 梁昌洪 《电子科学学刊》 CSCD 1995年第1期103-107,共5页
本文对电磁开腔镜面反射损耗、镜面衍射损耗、耦合孔损耗在各种模式下引起的品质因数进行了深入的理论分析,得到了品质因数更为精确的计算公式,最后给出了计算实例。
关键词 电磁开腔 品质因数 镜面反射损耗
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