NiFe-YIG颗粒膜中铁磁共振线宽的角度依赖性

给出了镍铁合金-钇铁石榴石(NiFe-YIG)颗粒薄膜铁磁共振的测量结果,目的是研究薄膜内部线宽展宽机制。通过射频磁控溅射法在硅衬底上制备了50 nm厚度的NiFe-YIG颗粒薄膜样品,主要进行了面外转角铁磁共振测试,结合吉尔伯特阻尼、双磁子散射(短程缺陷激发)和镶嵌效应(长程缺陷激发)的理论对线宽进行分离;可以发现,线宽和场角的数据与理论相符合。当YIG含量较低时,线宽主要由吉尔伯特阻尼和双磁子散射阻尼线宽组成;随着YIG含量增大,双磁子散射和镶嵌效应导致的线宽展宽效应随之增大,并且获得了有关基本参数及缺陷信息。