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电子器件高温稳态寿命试验问题研究
被引量:
2
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作者
薛仁经
《质量与可靠性》
2002年第1期28-31,共4页
简述了电子器件的新产品进行“鉴定检验”和“质量一致性检验”的重要作用,通过国内外电子器件工作寿命试验及其要求的比较和分析,说明了军用电子器件必须进行高温1000h稳态寿命试验的缘由,并对如何加强这一工作提出了建议。
关键词
电子器件
工作寿命
高温
试验
长时稳态试验
电子元器件
下载PDF
职称材料
题名
电子器件高温稳态寿命试验问题研究
被引量:
2
1
作者
薛仁经
机构
中国航天科技集团公司五院
出处
《质量与可靠性》
2002年第1期28-31,共4页
文摘
简述了电子器件的新产品进行“鉴定检验”和“质量一致性检验”的重要作用,通过国内外电子器件工作寿命试验及其要求的比较和分析,说明了军用电子器件必须进行高温1000h稳态寿命试验的缘由,并对如何加强这一工作提出了建议。
关键词
电子器件
工作寿命
高温
试验
长时稳态试验
电子元器件
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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1
电子器件高温稳态寿命试验问题研究
薛仁经
《质量与可靠性》
2002
2
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