期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
电子器件高温稳态寿命试验问题研究 被引量:2
1
作者 薛仁经 《质量与可靠性》 2002年第1期28-31,共4页
简述了电子器件的新产品进行“鉴定检验”和“质量一致性检验”的重要作用,通过国内外电子器件工作寿命试验及其要求的比较和分析,说明了军用电子器件必须进行高温1000h稳态寿命试验的缘由,并对如何加强这一工作提出了建议。
关键词 电子器件 工作寿命 高温试验 长时稳态试验 电子元器件
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部