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电子元器件的贮存可靠性及评价技术
被引量:
20
1
作者
杨丹
恩云飞
黄云
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第7期61-64,共4页
综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存...
综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。
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关键词
电子技术
贮存
可靠性
综述
长期贮存试验
极限应力
试验
加速
贮存
寿命
试验
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职称材料
题名
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
被引量:
20
1
作者
杨丹
恩云飞
黄云
机构
信息产业部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第7期61-64,共4页
文摘
综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。
关键词
电子技术
贮存
可靠性
综述
长期贮存试验
极限应力
试验
加速
贮存
寿命
试验
Keywords
electronic technology
storage reliability
review
long-term storage test
limit stress test
accelerated storage life test
分类号
TN601 [电子电信—电路与系统]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
电子元器件的贮存可靠性及评价技术
杨丹
恩云飞
黄云
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2005
20
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