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电子元器件的贮存可靠性及评价技术 被引量:20
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作者 杨丹 恩云飞 黄云 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2005年第7期61-64,共4页
综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存... 综述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,分析了元器件贮存失效模式及原因,表明减少元器件自身缺陷、改善固有可靠性是提高其贮存可靠性的关键。并从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析。 展开更多
关键词 电子技术 贮存可靠性 综述 长期贮存试验 极限应力试验 加速贮存寿命试验
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