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NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用
1
作者
王今雨
安健
+3 位作者
王龙翔
唐新龙
丁跃
陈睿佳
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2024年第2期186-192,共7页
为满足NAND闪存芯片性能和可靠性量化分析与测试的教学实验需求,自研NAND闪存可靠性验证实验设备,基于该设备构建了NAND闪存可靠性验证实验平台。平台支持软硬件构建过程测试和结果分析等相关实验内容,并通过实例测试验证了其实用性。...
为满足NAND闪存芯片性能和可靠性量化分析与测试的教学实验需求,自研NAND闪存可靠性验证实验设备,基于该设备构建了NAND闪存可靠性验证实验平台。平台支持软硬件构建过程测试和结果分析等相关实验内容,并通过实例测试验证了其实用性。平台可覆盖计算机类工科本科阶段多门专业课程的课内实验、专题实验、开放创新实验、课程设计以及毕业设计等,培养学生理论结合实践、独立思考、动手解决工程问题的能力。
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关键词
实验设备
闪存可靠性
数字电路设计
FPGA
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职称材料
题名
NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用
1
作者
王今雨
安健
王龙翔
唐新龙
丁跃
陈睿佳
机构
西安交通大学计算机科学与技术学院
西安邮电大学计算机学院
出处
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2024年第2期186-192,共7页
基金
国家重点研发计划项目(2022YFB3305503)
陕西省重点研发一般项目(2023-YBGY-403)
河南省重点研发项目(201300210400HZ)。
文摘
为满足NAND闪存芯片性能和可靠性量化分析与测试的教学实验需求,自研NAND闪存可靠性验证实验设备,基于该设备构建了NAND闪存可靠性验证实验平台。平台支持软硬件构建过程测试和结果分析等相关实验内容,并通过实例测试验证了其实用性。平台可覆盖计算机类工科本科阶段多门专业课程的课内实验、专题实验、开放创新实验、课程设计以及毕业设计等,培养学生理论结合实践、独立思考、动手解决工程问题的能力。
关键词
实验设备
闪存可靠性
数字电路设计
FPGA
Keywords
experimental equipment
flash reliability
digital circuit design
FPGA
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
NAND闪存可靠性验证实验平台设计与应用
王今雨
安健
王龙翔
唐新龙
丁跃
陈睿佳
《实验技术与管理》
CAS
北大核心
2024
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