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闭环Boost电路电解电容的故障预测方法研究
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作者 陈妤 王友仁 姜媛媛 《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS 2012年第2期205-208,212,共5页
为了实现闭环Boost电路中电解电容的故障预测,本文采用基于特征参数退化的方法,利用LS-SVM及LS算法对电解电容的特征参数序列进行预测,实现了电解电容的故障预测与剩余寿命估计.仿真及物理实验均证明了本文方法的有效性及准确性.
关键词 闭环boost电路 特征参数 电解电容 故障预测
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