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用于光致抗蚀剂的聚对羟基苯乙烯的合成及其进展 被引量:3
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作者 孟诗云 李光宪 +1 位作者 杨其 黄亚江 《化学进展》 SCIE CAS CSCD 2004年第2期243-249,共7页
随着集成电路芯片的发展 ,生产物理和化学性质均一的高分子光阻剂得到了各信息产业国的重视。到目前为止 ,含对羟基苯乙烯基的高分子光阻剂已成为光刻蚀 0 11μm线宽芯片的关键技术。本文综述了目前合成窄分布的含对羟基苯乙烯基的高... 随着集成电路芯片的发展 ,生产物理和化学性质均一的高分子光阻剂得到了各信息产业国的重视。到目前为止 ,含对羟基苯乙烯基的高分子光阻剂已成为光刻蚀 0 11μm线宽芯片的关键技术。本文综述了目前合成窄分布的含对羟基苯乙烯基的高分子光阻剂的各种方法 ,在此基础上比较了各种合成方法的优缺点 ,为合成窄分布的含对羟基苯乙烯基的高分子光阻剂提供了必要的指导。 展开更多
关键词 光致抗蚀剂 聚对羟基苯乙烯 合成 高分子光阻剂 集成电路芯片 活性自由基聚合 间规特殊活性聚合 高聚物改性
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