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合金化热镀锌无间隙原子钢板表面白色点状压印缺陷的产生原因 被引量:1
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作者 刘少先 杨健 徐丽菊 《理化检验(物理分册)》 CAS 2023年第1期35-38,共4页
使用扫描电子显微镜、能谱仪、光学显微镜等设备,对合金化热镀锌无间隙原子钢板表面白色点状压印缺陷进行分析,查明了该缺陷的产生原因。结果表明:该缺陷表面合金化不充分,平整印较多,锌层局部偏厚,部分溶锌后发现有氧化铁皮;钢板表面... 使用扫描电子显微镜、能谱仪、光学显微镜等设备,对合金化热镀锌无间隙原子钢板表面白色点状压印缺陷进行分析,查明了该缺陷的产生原因。结果表明:该缺陷表面合金化不充分,平整印较多,锌层局部偏厚,部分溶锌后发现有氧化铁皮;钢板表面氧化铁皮局部偏厚,酸洗时氧化铁皮未能被完全溶解,并压在钢板表面,镀锌合金化后呈白色点状压印形貌。采用降低卷取温度的方法,可有效减小钢板表面氧化铁皮的厚度,后续钢板未再发现该类缺陷。 展开更多
关键词 合金化热镀间隙原子钢板 压印缺陷 氧化铁皮 卷取温度
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反应磁控溅射ZnO薄膜的高温退火研究 被引量:5
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作者 陈汉鸿 吕建国 +2 位作者 叶志镇 汪雷 赵炳辉 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2002年第6期467-469,449,共4页
ZnO薄膜是一种新型的II VI族直接能带化合物半导体材料 ,有可能实现短波长的探测器 ,LED和LD等光电子器件。用磁控溅射法在硅衬底上生长ZnO薄膜 ,由于薄膜与衬底之间较大的应力失配 ,以及由于较快的生长速率 ,薄膜中存在较多的Zn间隙原... ZnO薄膜是一种新型的II VI族直接能带化合物半导体材料 ,有可能实现短波长的探测器 ,LED和LD等光电子器件。用磁控溅射法在硅衬底上生长ZnO薄膜 ,由于薄膜与衬底之间较大的应力失配 ,以及由于较快的生长速率 ,薄膜中存在较多的Zn间隙原子和O空位 ,在薄膜中存在应力。通过高温退火 ,可以使应力得到弛豫 ,降低O空位和Zn间隙原子的浓度 ,提高薄膜的化学计量比和改善薄膜的结晶质量。本实验用XRD和AFM研究了高温退火对ZnO薄膜的晶体性能和表面的影响。对ZnO薄膜在退火处理后c轴方向的应力性质的转变作了机理上的探讨。 展开更多
关键词 反应磁控溅射 ZNO薄膜 高温退火 应力转变 间隙锌原子 氧空位 氧化 半导体
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