库仑测厚技术的现状及国内应用进展

论述了库仑测厚技术的现状和最新发展 ,介绍了其技术特点、技术路线、存在问题以及技术发展方向 。

基于XP Embedded的嵌入式数字测厚仪设计与实现

如何提高开发效率、降低成本已经成为当前嵌入式系统开发方法研究中的热点。针对嵌入式数字测厚仪的研制要求,设计了基于普通PC机硬件平台、采用WindowsXPEmbedded进行嵌入式软件开发的技术路线。根据阳极溶解库仑法的原理,用PC机和自研的测厚采集卡实现了金属镀层厚度的测量、分析与数据存贮、打印等功能。实际开发和应用表明,这是一种高效、低成本的研发方法,此方法适用于类似的数字化仪器的开发研制。