利用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了阴极射线辐照 GaP 纯绿发光二极管(LED)中的深能级,测量到两个激活能为0.45 eV、0.66 eV 的电子陷阱和一个激活能为0.33 eV 的空穴陷阱。证实了0.66 eV 的电子陷阱和0.33 eV 的空穴陷阱与辐照引起的晶...利用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了阴极射线辐照 GaP 纯绿发光二极管(LED)中的深能级,测量到两个激活能为0.45 eV、0.66 eV 的电子陷阱和一个激活能为0.33 eV 的空穴陷阱。证实了0.66 eV 的电子陷阱和0.33 eV 的空穴陷阱与辐照引起的晶格缺陷有关,同时发现阴极射线辐照引起谱峰加宽。展开更多
文摘利用深能级瞬态谱(DLTS)方法研究了阴极射线辐照 GaP 纯绿发光二极管(LED)中的深能级,测量到两个激活能为0.45 eV、0.66 eV 的电子陷阱和一个激活能为0.33 eV 的空穴陷阱。证实了0.66 eV 的电子陷阱和0.33 eV 的空穴陷阱与辐照引起的晶格缺陷有关,同时发现阴极射线辐照引起谱峰加宽。
