-
题名均匀线阵阵元缺损对波束方向图影响的分析
被引量:5
- 1
-
-
作者
朱德智
闫冯军
-
机构
中国电子科技集团公司第
-
出处
《现代电子技术》
2009年第8期106-108,111,共4页
-
文摘
当均匀线阵中某些阵元损坏时,该阵元无法接收入射信号,会导致波束形成结果与正常情况出现差别。在不进行加窗处理的情况下,波束方向图变化不大,主瓣幅度稍有减小,主瓣宽度和主副比也略有变化。然而对于锥化波束形成,波瓣的主瓣幅度、主副比和主瓣宽度受到明显影响,且与缺损阵元在线阵中的位置有着紧密的联系,当缺损阵元处于线阵中心时,波瓣性能受到严重影响。讨论了阵元缺损对波束形成的影响,通过比较缺损阵元在不同位置时的锥化波束形成波瓣性能变化,得知阵元离线阵中心越近对波瓣影响越大,因而要优先保证线阵中心阵元完好。
-
关键词
波束形成
方向图
阵元缺损
锥化
-
Keywords
beamforming
pattern
defect array, taper
-
分类号
TP391
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
-
-
题名均匀线阵阵元缺损对目标检测的影响分析
被引量:1
- 2
-
-
作者
朱德智
闫冯军
-
机构
中国电子科技集团公司第
-
出处
《信息与电子工程》
2009年第5期398-403,408,共7页
-
文摘
在一定条件下,阵元缺损对均匀线阵(ULA)的波束形成产生较大影响,进而影响雷达的检测性能。对均匀加窗和锥化两种情况下,缺损阵元在不同位置时对波束形成产生的影响进行了分析。通过分析发现,缺损阵元在阵列中心时,阵元缺损会对锥化波束形成的方向图产生显著的影响,并对单脉冲测角误差曲线产生影响,对于小型均匀线阵影响更大。
-
关键词
阵元缺损
均匀加权
锥化
波束方向图
单脉冲测角
-
Keywords
damaged-source
uniform-weighting
taper
beam-pattern
mono-pulse angle measurement
-
分类号
TN957.51
[电子电信—信号与信息处理]
-
-
题名均匀圆阵阵元缺损对阵列方向图影响的分析
被引量:1
- 3
-
-
作者
李铮
张曙
-
机构
哈尔滨工程大学信息与通信工程学院
-
出处
《自动化技术与应用》
2010年第9期31-34,39,共5页
-
基金
国防科学技术工业委员会基础研究基金项目(编号40106030503)
-
文摘
阵列中阵元接收信号按照一定加权方式合成,使波束方向图指向期望信号同时抑制其他方向的干扰信号。但是当阵列中有阵元缺损时,会对阵列方向图产生一定影响。本文分析并仿真了均匀加权情况下,均匀圆阵无缺损的波束方向图,同时对比了具有相同波束指向的均匀圆阵和均匀线阵在缺损阵元位于不同位置的波束方向图。仿真表明缺损一个阵元后,均匀加权的均匀圆阵性能下降较多。而当缺损阵元位于不同阵列不同位置时,对均匀线阵影响有较大不同,但是对均匀圆阵的影响则相差不多。
-
关键词
波束形成
阵元缺损
天线方向图
-
Keywords
beam forming
defect array
pattern of antenna array
-
分类号
TN827.4
[电子电信—信息与通信工程]
-