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气体电离室时间响应函数的一种测量方法 被引量:2
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作者 王立强 安继刚 卿上玉 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第6期515-517,共3页
在快速辐射扫描成像系统中 ,阵列气体电离室时间响应速度的快慢将直接影响图像的清晰度。介绍了一种测量气体电离室时间响应函数的方法 ,并通过反卷积处理图像数据 ,可以提高图像的清晰度。
关键词 阵列气体电离室 时间响应函数 测量方法 辐射成像 反卷积 图像处理
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