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阶跃电压法测量产生寿命的简单方法 被引量:1
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作者 丁扣宝 张秀淼 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1998年第4期52-53,51,共3页
采用Zerbst产生区宽度模型,提出了阶跃电压法中一个计算简单、方便、快捷的确定产生寿命的方法。
关键词 半导体 阶跃电压法 生产寿命 测量
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阶跃电压法确定产生寿命的计算公式
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作者 丁扣宝 赵荣荣 张秀淼 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1997年第3期186-189,共4页
采用一个最近发展起来的产生区宽度模型,导出了描述阶跃电压作用下MOS电容器的电容-时间(C-t)瞬态特性方程。
关键词 产生寿命 阶跃电压法 器件物理 MOS器件
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