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题名线绕电位器不规则阻值跳变的故障分析
被引量:1
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作者
陈雁
段超
王旭
张伟
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机构
中国空间技术研究院
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第2期5-8,共4页
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文摘
对精密线绕电位器出现不规则阻值跳变的现象进行了分析,结合绕线电阻器结构的原理和实际检查结果,最终定位电位器下簧片接触点(电刷)向内弯曲角度偏大、导致接触区域向外偏移,且线圈绕组工作面残留漆层和簧片接触点压在可动绝缘的多余物上,最终导致簧片接触点与绕组接触不良引起电位器阻值跳变。提出在生产中需要加强质量控制,并对电位器提出了改进建议。
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关键词
线绕电位器
阻值跳变
改进
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Keywords
wound potentiometer
parameter random variation
improvement
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分类号
TM547
[电气工程—电器]
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题名一种电迁移测试失效时间判定方法
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作者
钱燕妮
尹彬锋
周柯
于赫薇
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机构
上海华力微电子有限公司
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第10期793-797,共5页
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文摘
采用铜大马士革工艺制备了用于电迁移测试的样品,对电迁移测试过程中存在的两类电阻-时间(R-t)特征曲线进行了研究。研究发现采用固定电阻变化率作为失效判定标准所得的失效时间分布曲线不能真实地反映样品的实际寿命,而采用第一次阻值跳变点对应的时间作为失效时间所得的分布曲线则更符合电迁移理论。针对两种失效判定方法所得到的不同结果进行了机理分析,结果表明,采用第一次阻值跳变点对应的时间作为失效时间分析电迁移失效更合理。
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关键词
超大规模集成电路(VLSI)
电迁移
失效判定标准
固定电阻变化率
阻值第一次跳变点
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Keywords
very large scale integration(VLSI)
electromigration
failure criterion
fixed resistance change percentage
the first jump points of resistance
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分类号
TN405.97
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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