基于阿雷尼乌斯模型开展的加速寿命试验激活能研究

目前"长寿命"已成为航空航天产品的通用要求,而整个系统的长寿命很大程度上取决于电子产品的寿命,Arrhenius模型是使用最为广泛的用于预计电子产品寿命的加速寿命试验方法之一。而在使用Arrhenius模型时,激活能一般都参照美军标中的参考值取0.5～0.7eV,该数值表征产品的失效机理。本文基于国内90年代建成的某模拟集成电路生产线生产的一款运算放大器,通过多组试验数据,拟合计算其激活能Ea,并用相同试验方法拟合出基于同一生产线的AD转换器、驱动器的激活能Ea,通过对比得出激活能Ea与哪些因素相关。