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低成本高故障覆盖率内建自测试方案
1
作者
李立健
赵瑞莲
《同济大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第12期1519-1523,共5页
提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要...
提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,而故障覆盖率高 。
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关键词
线性反馈移位寄存器
种子
随机向量难测故障
随意位
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
低成本高故障覆盖率内建自测试方案
1
作者
李立健
赵瑞莲
机构
中国科学院自动化研究所国家专用集成电路工程中心
北京化工大学计算机科学与技术系
出处
《同济大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第12期1519-1523,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目 ( 6 0 1730 4 2 )
文摘
提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,而故障覆盖率高 。
关键词
线性反馈移位寄存器
种子
随机向量难测故障
随意位
集成电路
Keywords
linear-feedback shift-register
seed
random pattern resistant fault
don't care bits
分类号
TN403 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
低成本高故障覆盖率内建自测试方案
李立健
赵瑞莲
《同济大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
0
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职称材料
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