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低成本高故障覆盖率内建自测试方案
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作者 李立健 赵瑞莲 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第12期1519-1523,共5页
提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要... 提出了一个基于重复播种的新颖的BIST(build -inself-test)方案 .它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子 ,并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩 .通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间 .实验表明 ,本方案需要外加硬件少 ,测试施加时间较短 ,而故障覆盖率高 。 展开更多
关键词 线性反馈移位寄存器 种子 随机向量难测故障 随意位 集成电路
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