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随机存取存储器故障分析及测试方案实现
被引量:
5
1
作者
蒋登峰
周娟
《中国计量学院学报》
2010年第3期257-262,共6页
通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该...
通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.
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关键词
随机存取存储器检测
故障模型
故障表现
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职称材料
题名
随机存取存储器故障分析及测试方案实现
被引量:
5
1
作者
蒋登峰
周娟
机构
杭州士兰微电子股份有限公司
中国计量学院质量与安全工程学院
出处
《中国计量学院学报》
2010年第3期257-262,共6页
文摘
通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.
关键词
随机存取存储器检测
故障模型
故障表现
Keywords
RAM testing
fault model
MARCH-C
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
随机存取存储器故障分析及测试方案实现
蒋登峰
周娟
《中国计量学院学报》
2010
5
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