X射线粉晶衍射法结合运用于岩矿鉴定的薄弱部分——隐晶质岩石

隐晶质岩石的准确鉴定通常是地质工作中的难点,而这类岩石又广泛发育于三大岩类中。通过比较岩矿鉴定和X射线粉晶衍射两种方法在隐晶质岩石鉴定的利弊因素,以此提出针对隐晶质岩石鉴定更为有效的方法。

X射线粉晶衍射法结合显微镜薄片观测运用于具隐晶质岩石的鉴定

岩石的鉴定方法最常见的有X射线粉晶衍射法及显微镜薄片鉴定两种方式,而在地质勘探当中,对于具隐晶质部分岩石的鉴定最为困难,为了找出该种岩石鉴定的合理方法,本次文章针对具隐晶质的岩石进行鉴定方法的对比分析,分别概述X射线粉晶衍射法及显微镜薄片鉴定法,以实际案例分析两种鉴定方法的优缺点,选出鉴定具隐晶质岩石更为有效的方法。