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题名大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用
被引量:10
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作者
章慧彬
朱江
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机构
中国电子科技集团公司第
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出处
《电子与封装》
2017年第6期10-15,共6页
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文摘
集成电路测试就是对集成电路进行好坏的判断,通过测量对集成电路的输出响应和预期输出进行比较,以确定或评估集成电路功能和性能的过程。而基于ATE开发完整、稳定、可靠的测试程序,是实现对大规模集成电路自动化快速在线检测最通用、最有效的手段,因此集成电路测试程序开发技术就显得非常重要。
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关键词
集成电路测试程序
ATE
参数测试
功能测试
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Keywords
integrated circuit test program
ATE
parameter testing
function testing
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名大规模集成电路测试程序质量控制方法研究
被引量:4
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作者
孙宇
唐锐
王小强
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机构
工业和信息化部电子第五研究所
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2015年第4期55-59,共5页
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文摘
集成电路测试程序是集成电路测试的最基本的要素,测试程序的质量直接影响到测试的质量。对大规模集成电路的测试程序的开发过程及影响因素进行了研究,并提出了一套集成电路测试程序质量控制方法,从而保障了集成电路测试程序的质量。
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关键词
集成电路
集成电路测试程序
开发过程
影响要素
评审
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Keywords
IC
IC test program
development process
influence factor
evaluation
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名大规模集成电路测试程序开发技术及流程应用
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作者
李超
袁静
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机构
陕西省电子技术研究所有限公司
陕西恒太电子科技有限公司
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出处
《电子乐园》
2023年第2期19-21,共3页
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文摘
伴随科学技术的快速发展,大规模集成电路测试程序开发技术也应获得优化。优良开发技术有助于测试工程师了解集成电路的功能与性能。为此,工程师应该优化原有思想,了解集成电路测试程序开发的主要流程。通过测试方案的论证、测试接口板的设计等方式,让集成电路测试程序开发技术具有科学性的特征。因此,大规模集成电路测试程序开发技术在得到广泛应用的基础上,工程师则能对设计加工制造出的产品质量具有全面化了解。
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关键词
大规模
集成电路测试程序
参数测试
开发技术
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分类号
TP
[自动化与计算机技术]
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