开口同轴探头测量微波集成电路基片的复介电常数

本文论述了开口同轴（无外加法兰）非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法，出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数，所得结果与它们的典型值非常吻合。开口同轴法测量具有非破坏性，适于现场测量，而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点。

利用高性能工具进行“常规”测量

几年前的某些“尖端”测量手段如今已成为常规方法。现在测量电路时,必须要处理更快的信号边缘、更高的时钟频率,还要处理模拟量(尤其在数字系统中)。同一台示波器,早晨用于描述时序,中午可能被用于排除模拟电路的故障,到了下午则用来测量电源。所有这些都是常规测量,但是需求的变化范围却很大。