期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
深N阱5 V/40 V制程关键工艺条件的开发
1
作者 熊淑平 吴长明 《集成电路应用》 2018年第5期47-51,共5页
低压5 V/高压40 V制程广泛应用于LCD栅驱动芯片,LED驱动芯片,智能电表芯片及电源管理等产品的生产。N型埋层(NBL)加上P型外延层(P-EPI)做隔离的工艺制程已经稳定量产多年,而以深N阱代替NBL+P-EPI的工艺,不需要昂贵的EPI,同时可减少零层... 低压5 V/高压40 V制程广泛应用于LCD栅驱动芯片,LED驱动芯片,智能电表芯片及电源管理等产品的生产。N型埋层(NBL)加上P型外延层(P-EPI)做隔离的工艺制程已经稳定量产多年,而以深N阱代替NBL+P-EPI的工艺,不需要昂贵的EPI,同时可减少零层光刻(Zero layer),生产成本大幅降低。DNW工艺可以沿用EPI工艺的Layout设计规则,保持了EPI工艺器件的电特性,特别是高压器件的击穿电压(BV)足够满足各种对栅和漏端均需耐40V高压产品的应用需求。 展开更多
关键词 集成电路制造 深N阱 NBL 击穿电压 高能注入 高温推进 零层光刻 光刻对位
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部