高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

利用HPGe探测器及DSPECPIus谱仪的活时间校准模式（LTC）和零死时间校准模式（ZDT），对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量。结果表明：在计数率急剧变化的情况下，LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失；与ZDT模式的数据相比，初始阶段数据丢失率约2．O％～3．8％。这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响，但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响，实验中，LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2．56％。

使用SGA软件检验Shot-Pro遥爆系统的同步性能

本文分析了Shot-Pro遥爆系统的工作过程、编码器零时间校准和电台延迟校准原理,介绍了SGA软件的使用及应用SGA软件检验Shot-Pro遥爆系统同步性能的方法,并研究了这种方法的测试精度和应用范围。