便携式制动性能测试仪静态校准装置的校准方法研究

通过采用数显式角度测量仪,对便携式制动性能测试仪静态校准装置进行校准测量,提出科学合理的校准方法,并对测量不确定度进行分析与评定。

便携式制动性能测试仪静态校准装置的校准方法

便携式制动性能测试仪静态校准装置的计量性能准确性直接影响便携式制动性能测试仪的测试结果,目前尚未有关于其校准方法的公开报道。文章针对该类设备的性能特点,研究给出以数显倾角仪为标准器的校准方法,并对三种典型的静态校准装置进行校准试验,最后通过不确定度分析和比对试验进行验证。结果表明该校准方法科学合理,便捷高效,满足计量溯源需求,为后续校准规范的修订提供重要参考。

冶金高频响高精度伺服液压缸性能测试系统软件开发

采用LabVIEW与MATLAB函数结合的方法,开发了冶金高频响高精度伺服液压缸性能测试系统。根据生产冶金高频响高精度伺服液压缸对其动静态性能指标要求,该测试系统功能模块包含最低起动压力测试模块、带载动摩擦力测试模块、阶跃响应测试模块、频率响应测试模块、偏摆测试模块,各项测试结果通过研华数据采集卡PCI-1742U、PCI-1723与SSI-RS485电流变送器转换采集MST位移传感器信号与AB相脉冲传感器信号;该测试系统能够对测试的数据进行实时跟踪显示、存储或查询;此外,该系统还具有数据导出、打印实验报告等辅助功能。实验证明,该测试系统具有较高的实时性与可操作性,填补了其他系统所空缺的针对于大直径冶金高频响高精度伺服液压缸的偏摆测试模块,同时该测试系统具有更高的稳定性,解决了技术人员对原有测试系统操作复杂的难题,实现“傻瓜式”操作,更加智能化、可视化、及时化。

EMG伺服阀结构及静态性能测试系统的研究

对EMG电液伺服转阀结构进行了详细介绍,建立一套静态性能测试系统对EMG伺服阀进行静态性能测试、曲线绘制,根据分析结果对EMG伺服阀出现的问题进行深入探究。结果表明,该静态性能测试系统可有效用于EMG静态性能检测并可反映出其存在问题。

采用纳米银焊膏烧结互连技术的中高压IGBT模块及其性能表征

智能电网用压接式绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块主要通过压力接触来实现热耗散,而这种封装散热方式存在界面接触不佳、散热性能差等缺点,导致同等通流能力下芯片的结温偏高,电性能下降,甚至影响其长期可靠性。为了克服这些问题,提出了采用纳米银焊膏作为芯片连接材料替代压力接触与芯片形成电触点的方式,研发了一款针对智能电网的采用纳米银焊膏的烧结式IGBT模块;并表征了烧结式IGBT模块的整体热阻、静态电性能及芯片剪切强度,完成了与商用同等级压接式IGBT模块的性能比对。实验结果显示:烧结式IGBT模块的热阻比压接式IGBT模块下降了15.8%;2种模块的静态电性能的测试结果基本一致,进一步验证了烧结式IGBT模块的封装可行性;对于大面积IGBT芯片(尺寸为13.5 mm×13.5 mm),其连接芯片烧结银接头的剪切强度约为20 MPa,接头质量较高。以上结果说明采用纳米银焊膏封装高压IGBT模块,不仅可以显著降低压接IGBT模块的热阻,同时仍能获得良好的静态电性能。因此,由于其在高压大电流电能运输过程中较高的转换效率及功率密度,烧结式IGBT模块有望应用于智能电网。

光学仪器 X射线、紫外线及其仪器

O434．1 2005053980 有效线吸收系数能谱效应综合法研究=Research on effi- cient linear attenuation coefficient(ELAC)of spectrum effect with combined method[刊,中]／刘进(中物院流体物 理研究所．四川,绵阳(621900)),刘军…∥光子学报．- 2005,34(3)．

12 bit 30 MSPS逐次比较型ADC的测试

针对物理实验读出的需求设计了一款低功耗12 bit 30 MSPS逐次比较型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片,为评估其性能指标参数,需进行系统的测试。在本研究工作中构建了测试系统,然后按照IEEE标准进行了系统的测试和分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内ADC有效位(Effective Number Of Bit,ENOB)约为9 bit,达到了本版本芯片的设计指标。同时,综合分析静态性能与动态性能测试结果,可以通过优化逐次比较型ADC中电容阵列电容失配参数,进一步提升ADC的非线性指标,为下一版芯片的改进设计提供了参考依据。

10 bit 20 MSPS流水线型ADC芯片测试

针对塑料闪烁体阵列探测器(Plastic Scintillation Detector,PSD)低功耗、数字化的读出需求,研制了一款多通道10 bit 20 MSPS流水线型模数变换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)芯片。为了评估该ADC芯片的性能参数,需要对其进行系统化的测试。首先研制了一套测试系统,包括电路的硬件设计、FPGA固件和分析程序的设计,然后依据IEEE标准对ADC芯片进行了系统化的测试与分析。测试结果表明,输入信号在基带范围内,ADC芯片测试参数达到了预期指标,有效位数(Effective Number of Bit,ENOB)接近于8.0 bit,积分非线性(INL)=0.75LSB,微分非线性(DNL)=1.09LSB,为后续ADC芯片的优化设计和参数提升提供了有力的支持。