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一款商用MRAM电离总剂量效应研究
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作者 于春青 李同德 +3 位作者 王亮 郑宏超 毕潇 王亚坤 《现代应用物理》 2023年第1期173-179,共7页
针对一款商用磁阻式随机存取存储器(magnetoresistive random access memory, MRAM)芯片,进行了静态总剂量和动态总剂量电离辐射效应研究。利用中国计量科学研究院的60Co γ辐射源对商用MRAM进行了不同测试向量、不同测试模式、有无保... 针对一款商用磁阻式随机存取存储器(magnetoresistive random access memory, MRAM)芯片,进行了静态总剂量和动态总剂量电离辐射效应研究。利用中国计量科学研究院的60Co γ辐射源对商用MRAM进行了不同测试向量、不同测试模式、有无保护层、加电模式及不加电模式下的总剂量效应试验研究。结果表明静态辐照下芯片的抗总剂量能力最差,其次为动态读模式、动态写模式,不加电模式下芯片的抗总剂量能力最强,这一结果说明磁存储单元具有很强的抗总剂量能力。针对不同测试向量(00,FF,斜三角),研究结果表明:静态模式下,抗辐射能力FF<斜三角<00;动态读模式下,抗辐射能力FF<00<斜三角。与无屏蔽层电路相比,有屏蔽层电路的抗总剂量能力提高了23倍。本文对不同测试模式下芯片出现的数据位错误类型进行了统计,并对出现的原因进行了分析说明,这一结果可为宇航用MRAM芯片的加固设计提供指导和参考。 展开更多
关键词 动态剂量 静态总剂量 MRAM 数据位错误
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Total Dose Radiation Hardened PDSOI CMOS 64k SRAMs 被引量:1
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作者 郭天雷 赵发展 +6 位作者 刘刚 李多力 李晶 赵立新 周小茵 海潮和 韩郑生 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1184-1186,共3页
The first domestic 1×10^6rad(Si) total dose hardened 1.2μm partially depleted silicon-on-insulator (PDSOI) 64k SRAM fabricated in SIMOX is demonstrated.The address access time is independent of temperature f... The first domestic 1×10^6rad(Si) total dose hardened 1.2μm partially depleted silicon-on-insulator (PDSOI) 64k SRAM fabricated in SIMOX is demonstrated.The address access time is independent of temperature from -55 to 125℃ and independent of radiation up to 1×10^6rad(Si) for the supply voltage VDD.The standby current is 0.65μA before the total dose of radiation and is only 0.80mA after radiation exposure,which is much better than the specified 10mA.The operating power supply current is 33.0mA before and only 38.1mA afterward,which is much better than the specified 100mA. 展开更多
关键词 PDSOI SRAM total dose RADIATION
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