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ESPI技术测量静态和准动态面内位移 被引量:5
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作者 杨福俊 何小元 庄春泉 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第10期1070-1073,共4页
利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术。采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条... 利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术。采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便。 展开更多
关键词 ESPI 高速CCD摄像 电子散斑图干涉 小光圈成像 图像处理 准动态内位移测量 静态面内位移测量
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